Publications

Amaro, P.; Fratini, F.; Safari, L.; Antognini, A.; Indelicato, P.; Pohl, R.; Santos, J. P.: Quantum interference shifts in laser spectroscopy with elliptical polarization. Physical Review A 92 (6), 062506 (2015)

Schuhmann, K.; Hänsch, T. W.; Kirch, K.; Knecht, A.; Kottmann, F.; Nez, F.; Pohl, R.; Taqqu, D.; Antognini, A.: Thin-disk laser pump schemes for large number of passes and moderate pump source quality. Applied Optics 54 (32), pp. 9400 - 9408 (2015)

Beyer, A.; Maisenbacher, L.; Khabarova, K.; Matveev, A. N.; Pohl, R.; Udem, T.; Hänsch, T. W.; Kolachevsky, N.: Precision spectroscopy of 2S-nP transitions in atomic hydrogen for a new determination of the Rydberg constant and the proton charge radius. Physica Scripta T165, 014030 (2015)

Amaro, P.; Franke, B.; Krauth, J. J.; Diepold, M.; Fratini, F.; Safari, L.; Machado, J.; Antognini, A.; Kottmann, F.; Indelicato, P. et al.; Pohl, R.; Santos, J. P.: Quantum interference effects in laser spectroscopy of muonic hydrogen, deuterium, and helium-3. Physical Review A 92 (2), 022514 (2015)

Diepold, M.; Fernandes, L. M. P.; Machado, J.; Amaro, P.; Abdou-Ahmed, M.; Amaro, F. D.; Antognini, A.; Biraben, F.; Chen, T.-L.; Covita, D. S. et al.; Dax, A. J.; Franke, B.; Galtier, S.; Gouvea, A. L.; Götzfried, J.; Graf, T.; Hänsch, T. W.; Hildebrandt, M.; Indelicato, P.; Julien, L.; Kirch, K.; Knecht, A.; Kottmann, F.; Krauth, J. J.; Liu, Y.-W.; Monteiro, C. M. B.; Mulhauser, F.; Naar, B.; Nebel, T.; Nez, F.; Santos, J. P.; Dos Santos, J. M. F.; Schuhmann, K.; Szabo, C. I.; Taqqu, D.; Veloso, J. F. C. A.; Voss, A.; Weichelt, B.; Pohl, R.: Improved x-ray detection and particle identification with avalanche photodiodes. Review of Scientific Instruments 86 (5), 053102 (2015)

Schuhmann, K.; Ahmed, M.A.; Antognini, A.; Graf, T.; Hänsch, T. W.; Kirch, K.; Kottmann, F.; Pohl, R.; Taqqu, D.; Voss, A. et al.; Weichelt, B.: Thin-disk laser multi-pass amplifier. In: Proceedings of the SPIE, Vol. 9342, 93420U (Eds. Clarkson, A. W.; Shori, R. K.). Solid-State Lasers XXIV: Technology and Devices, San Francisco, CA, USA, February 08, 2015 - February 10, 2015. SPIE (2015)